XRD Cihazı:

X-Işını Difraktometresi (XRD); jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında, metal ve alaşım analizlerinde, malzeme biliminde, sentezlenen malzemenin yapısal analizinde ve arkeolojide tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayini gibi birçok bilimsel ve araştırma/geliştirme alanlarında kullanılmaktadır. XRD analizleri ile kristal malzemelerin yapısal kalitesi, örgü parametreleri, yapısal kusurları, kristalografik yönelimi ve tanecik boyutu gibi özellikleri hakkında bilgi sahibi olunabilmektedir.